۱. دستگاه مغناطیس سنج نمونه نوسانی (VSM)

با استفاده از این دستگاه می توان خواص مغناطیسی مواد شامل دیامغناطیس، پارامغناطیس، فرومغناطیس، آنتی فرومغناطیس، فری مغناطیس را اندازه گیری کرد. نمونه در این دستگاه می تواند به شکل پودر، بالک، لایه نازک، تک کریستال و نمونه مایع باشد. نتایج به دست آمده از این دستگاه در قالب یک گراف که اصطلاحاً هیسترسیس لوپ نامیده می شود ارائه می گردد که از شکل این گراف خاصیت مغناطیسی ماده و از آنالیز آن می توان به کمیت های مغناطش اشباع M_s، مغناطش پسماند M_r، میدان وادارندگی H_c، نسبت مربعیت و نفوذپذیری µ دست یافت. این اطلاعات دید مناسبی از خواص نمونه تحت بررسی ارائه می دهد.

دستگاه از یک منبع تغذیه، یک مگنت دوقطبی، سیستم های کنترل و تقویت کننده های سیگنال، ویبراتور نمونه و پیکاب کویل های و سنسورهای حساس به سیگنال های مغناطیسی ساخته شده است که توسط سیستم مانیتورینگ به هم مرتبط شده اند. اساس اندازه گیری قانون ساده القای فارادی است. نمونه نوسان کننده در میدان مغناطیسی ثابت، طبق رابطه القای فارادی، جریانی القایی به وجود آورده که توسط پیکاب کویل های دستگاه اندازه گیری و تقویت می شود. این سیگنال و نتایج اندازه گیری سنسور حساس میدان مغناطیسی پس از پردازش وارد سیستم مانیتورینگ شده و گراف هیسترسیس لوپ را تشکیل می دهد.

دستگاه VSM هم اکنون در ازمایشگاه انرژی های تجدید پذیر، مغناطیس و نانوتکنولوژی دانشگاه فردوسی واقع در طبقه منهای یک دانشکده علوم، گروه فیزیک راه اندازی شده و آماده سرویس دهی به پژوهشگران و دانشجویان دانشگاه است. این دستگاه ساخت شرکت ایرانی مغناطیس دقیق کویر است. حداکثر میدان ایجاد شده توسط این دستگاه 2 تسلا معادل 20000 اورستد است. دقت دستگاه ۱ درصد مقدار خوانده شده توسط سیستم و نوفه سیستم در حد emu 10^-4 × ۵است.پایداری میدان در حد ۱ در صد مقدار خوانده شده در میدانهای پایین و ۰۵/۰ درصد کل بازه در میدانهای بالا است. دقت اندازه گیری میدان نیز در میدانهای پایین ۲/۰ اورستد و در میدانهای بالا ۱ اورستد است. از جمله قابلیت های این دستگاه می توان به رسم منحنی های زیر اشاره کرد.

اندازه گیری حلقه پسماند مغناطیسی (هیسترسیس لوپ)

اندازه گیری منحنی مغناطش اولیه

اندازه گیری حلقه‌های پسماند کوچک

اندازه گیری و رسم منحنی DCD

اندازه گیری و رسم منحنی IRM

اندازه گیری و رسم منحنی ∆M

ویژگی بارز سیستم توانایی ترسیم منحنی FORC است که به کاربر توان مطالعه مغناطواستاتیکی نمونه مغناطیسی را می‌دهد.

  مقدار و ابعاد مورد نیاز برای آنالیز، جهت نمونه های پودری و مایع حدود 100 میلی گرم و برای نمونه های لایه نازک و بالک ابعاد حدودی 0.5 در 0.4 در 0.8 سانتی متر مکعب و یا کوچکتر است.